航鑫光电荧光量子效率测量系统：精准测量荧光量子产率的前沿利器

　　在纳米材料研究领域，尤其是碳点等材料，荧光量子产率作为衡量材料荧光性能的关键参数，其精确测量对于深入理解材料光学性质及拓展潜在应用具有不可忽视的重要性。它直观地体现了材料将吸收的光能转化为荧光的效率。目前，荧光量子产率的测量主要有绝对法和相对法两种技术路径。

　　绝对法基于直接测定样品发射的荧光光子数与吸收的激发光子数之比来确定荧光量子产率。此方法具有较高的准确性，且不依赖于标准样品。在具体操作中，常运用积分球系统与荧光光谱仪的组合。积分球可实现全方位收集样品发射的荧光，有效减少光损失，进而提升测量的精准度。

　　其操作流程为：先将碳点样品制备成溶液并置于积分球内，选定合适的激发波长进行照射，同时利用荧光光谱仪测量荧光强度。为确定样品吸收的光子数，还需测量激发光的功率。最后，仪器软件会依据内置算法自动计算出荧光量子产率。不过，绝对法对实验条件极为敏感，需严格把控环境因素，如温度、湿度等，同时要定期对仪器进行校准，以保证测量结果的可靠性。

　　相对法是通过与已知荧光量子产率的标准样品进行对比来计算碳点的荧光量子产率。该方法操作简便，对仪器要求相对较低。实验时，首先需选择与碳点荧光性质相近的标准物质，将其配制成适当浓度的溶液，确保在激发波长下，标准样品与碳点样品的吸光度相近。

　　随后，使用荧光光谱仪在相同条件下测量两者的荧光发射光谱并记录荧光强度。最后通过特定公式计算量子产率，该公式涉及标准样品的荧光量子产率、样品和标准样品的荧光积分强度以及吸光度等参数。

　　航鑫光电的行业解决方案：JY QEY6500 PLS 型荧光量子效率测定仪

　　航鑫光电针对材料荧光量子效率测量难题，自主研发了 JY QEY6500 PLS 型荧光量子效率测定仪。该系统适用于溶液、粉末、薄膜等多种形态的材料，不仅能进行绝对量子产率和色度的测量，还可实现光致发光光谱的测量与记录。

　　系统采用可溯源的光源进行定标，结合先进的光谱校正技术和积分球均匀性优化技术，进一步确保了测量结果的准确性和可靠性。光谱校正技术能够有效消除仪器自身光谱响应的差异，使测量结果更接近真实值；积分球均匀性优化技术则提升了积分球内光场的均匀性，减少了测量误差。

　　相较于传统荧光光谱仪，JY QEY6500 PLS 型荧光效率测量系统在多个方面展现出显著优势。从仪器性能来看，它具有出色的稳定性、快速性和可靠性。其体积小巧，使用便捷，为荧光探测和量子效率测量提供了低成本解决方案。

　　在操作体验上，该系统的操作界面友好，大部分测量操作可在软件界面完成，实现了自动化测量，极大地简化了实验流程。系统结构简单，易于操作，非常适合高校和科研单位使用，为荧光量子产率的测量提供了强大的技术支持。

　　通过使用航鑫光电的 JY QEY6500 PLS 型荧光量子点效率测试系统，科研人员能够更为精准地获取材料的荧光性能数据，为材料的深入研究和应用开发奠定坚实的数据基础，推动纳米材料等领域的研究不断向前发展。

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